Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Marka, Model: SHIMADZU SPM-9600

Atomik Kuvvet Mikroskobu Görünümü

Genel Bilgiler

Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) yüksek çözünürlüklü bir taramalı kuvvet mikroskobudur. AFM ile ince film, organik ve inorganik malzemelerin yüzey özellikleri incelenmektedir. Yüksek çözünürlükte görüntüleme, atomik boyutlarda bir iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda elde edilmektedir. Atomik kuvvet mikroskobunda iğnenin yüzeyle olan temas şekline göre üç farklı yöntem kullanılmakta olup bunlar; temaslı yöntem, temassız yöntem ve vurma yöntemidir. Yüzey yapısının topografi dışında farklı özelliklerini incelemek için AFM sistemi; Kelvin Prob Kuvvet Mikroskobu (KPFM), Manyetik Kuvvet Mikroskobu (MFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Yanal Kuvvet Mikroskobu (LFM), Kuvvet Modülasyonu Mikroskobu (FMM) tekniklerine dayalı analizlere olanak sağlamaktadır.

Nanopartikül Örnek Görseli

Cihazın Kabiliyetleri

Malzeme yüzey özelliklerinin incelenmesi
Ulaşılmış çözünürlük birkaç nanometre ölçeğinde olup, bu yönüyle optik tekniklerden çok üstündür.

Cihazın Kısıtları

Numune (incelenecek yüzey), sırasıyla en, boy, genişlik için 3x3x1 cm boyutlarından daha küçük ve katı formda olmalıdır.
Numune yüzeyindeki yükseltiler (pürüzlülük, derinlik) 5 mikronu geçmemelidir.
İncelenecek numune sıvı olmamalıdır.

Yapılan Analizler

Malzemelerin sertliği, elastikliği ve pürüzlülüğü hakkında bilgi edinilmesi
Tabaka/film kalınlığı ölçülmesi
Sürtünme kuvveti tespiti

Cihaz Personeli

Dr. Hürmüs Gürsu : hurmus.gursu@merklab.yildiz.edu.tr
Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr

Optik Profilometre

Marka, Model: AEP Nanomap 1000WLI Optik profilometre

Sistem Görüntüsü

Genel Bilgiler

Malzemenin yüzey pürüzlülüğü, kalınlığı ve 3D yüzey görüntüsünü karakterize etmek için kullanılır. Örnek üzerinde istenilen bölge hem optik hem de stylus profiler ile herhangi bir kayma olmaksızın bilgisayar kontrollü olarak görüntülenir. Yüzeye ışınların gönderilmesi veya yüzeyde gezdirilen başka bir elemanın üzerine tutularak yansıyan ışınlardaki değişim ile yüzey pürüzlülüğünü ölçerek yüzey profili elde edilir. Malzeme yüzeyinin 2 ve 3 boyutlu haritası çıkarılır. Yüzeyle temas olmadığından numune üzerinde aşınma meydana gelmez. Bu cihazla yüzey pürüzlülük tarama, topografik tarama, haritalama, film kalınlığı ölçme, optik sabit belirleme testleri yapılmaktadır.

Örnek Bir Profil Ölçümü

Cihazın Kabiliyetleri

Dikey çözünürlük 0.01nm
Tarama aralığı 150mm x 150mm XY
Lensler 2.5x- 100x
Z odak aralığı 0.1 nm-10mm
RMS tekrarlanabilirlik 0.01nm
Tilt +/- 8 derece

Cihazın Kısıtları

Yansıyan yüzeylerde tam verimli sonuç alınamamaktadır.
Özellikle yarıiletken malzemelerde başarılı sonuç alınabilmektedir.

Yapılan Analizler

• Numuneye zarar vermeden (temassız) yüzey pürüzlülüğü ve kalınlığı ölçülebilmektedir.

Cihaz Personeli

Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr

Mekanik Profilometre

Sistem Görünümü

Genel Bilgiler

Mekanik profilometre, iğne temas tekniği kullanılarak yüzeyin pürüzlülük ve basamak yüksekliğini ölçmede kullanılır. Yüzeyde bir alanda ileri geri hareket ederek ölçüm yapılmaktadır. Yüzey pürüzlülük, basamak yüksekliği gibi ölçümleri yüksek hassasiyette, tekrarlanabilir ve güvenilir olarak gerçekleştirmektedir. Bu cihazla yüzey pürüzlülük tarama, film kalınlığı ölçme, yüzey yapısı belirleme testleri yapılmaktadır.

Örnek Bir Profil Eğrisi

Cihazın Kabiliyetleri

İğne kuvveti 1-15 mg
Adım yüksekliği tekrarlanabilirliği 4Å
Dikey çözünürlük 1Å

Cihazın Kısıtları

Maksimum tarama uzunluğu 55 mm
Maksimum dikey tarama aralığı 1 mm
Maksimum numune kalınlığı 50 mm

Yapılan Analizler

Yüzey pürüzlülük tarama
Film kalınlığı ölçme

Cihaz Personeli

Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr

Yüzey Alanı Ölçüm Cihazı (BET)

Marka, Model: Micromeritics Asap 2020 – Quantachrome Quadrosorb SI

Micromeritics Asap 2020 BET Cihazı
Quantachrome Quadrosorb SI BET Cihazı

Genel Bilgiler

Brunauer, Emmett ve Teller (BET) metodu ile 77 K sıvı azot ortamında, azot (N2) , CO2, H2, Argon adsorpsiyonu tekniğine dayalı olarak yüzey alanı, gözeneklilik ve adsorpsiyon kapasitesi ölçümü yapılmaktadır.
Micromeritics cihazı 1, Quantochrome cihazı 4 bağımsız analiz istasyonuna sahiptir. Adsorpsiyon ve desorpsiyon kapasiteleri sayesinde BET yüzey alanı ve por boyut dağılımına güvenilir ve doğru bir şekilde ulaşılabilir.
Analiz sonuçlarında tek ve çok noktalı BET yüzey alanı, toplam gözenek hacmi, BJH gözenek boyutu dağılımı değerleri ve adsorpsiyon – desorpsiyon eğrileri verilmektedir.
BET cihazı ile seramik, aktif karbon, katalistler, boya ve kaplama ürünleri, implantlar, jeolojik numuneler, elektronik ve kozmetik sektörlerinden gelen örnekler analiz edilebilmektedir.

Cihazın Kabiliyetleri (Micromeritics ASAP2020)

Kriyojenik N2 ile 1.10-8 – 0.995 P/P0 aralığında izotermler elde edilmektedir.
1.2 bar değerine kadar cihaza bağlanan gazlar ile adsorpsiyon izotermleri elde edilebilir.

Cihazın Kısıtları

Cihaz 1.2 bar basınca kadar çalıştırılabilir.
Cihazda 77 K, 273 K, oda sıcaklığı ve üzerindeki sıcaklıklarda adsorpsiyon süreçleri gerçekleştirilebilir.

Yapılan Analizler

Spesifik yüzey alanı ölçümü (Quantachrome Quadrosorb SI ve Micromeritics ASAP2020)
Mikrogözenek boyut dağılımı ölçümü (CO2 adsopsiyonu seçeneği ile) (Micromeritics ASAP2020)
Gözenek hacmi ve boyut dağılımı ölçümü (Kriyojenik N2 seçeneği ile) (Micromeritics ASAP2020)
CO2 adsorpsiyon izotermleri

Cihaz Personeli

Dr. Ali Can Zaman : alican.zaman@merklab.yildiz.edu.tr
İlkay Şenel : ilkay.senel@merklab.yildiz.edu.tr
Hanife Sevgi Varlı Ma : hsevgi.varli@merklab.yildiz.edu.tr

Civalı Porozimetre

Marka, Model: Quantachrome PM 60/13

Civalı Porozimetre Cihazının Genel Görünümü

Genel Bilgiler

Gözenek boyut ölçüm cihazıdır. Civalı porozimetreler yeterli basınç uygulandığı taktirde ıslatımsız ve tepkimeye girmeyen bir sıvının küçük gözeneklere girmesi prensibine göre çalışmaktadır.

Cihazın Kabiliyetleri

Düşük basınç ölçüm aralığı: 0.20 – 50.0 psi
Yüksek basınç ölçüm aralığı: 20.0 – 60.0×103 psi
Çap ölçüm aralığı: 0.36×10-2 – 9.5×102µm

Yapılan Analizler

Düşük basınç ve yüksek basınçta gözenek boyut dağılımı ve porozite ölçümleri yapılmaktadır.

Cihaz Personeli

Dr. Duygu Ceylan Erdoğan : duygu.erdogan@merklab.yildiz.edu.tr
Dr. Tuğçe Unutkan Gösterişli : tugce.unutkan@merklab.yildiz.edu.tr

Helyum Piknometresi

Marka, Model: Quantachrome Ultrapyc 1200e

Piknometre Cihazı Görseli

Genel Bilgiler

Helyum piknometresi kullanılarak Arşimet’in akışkan taşması prensibi ve Boyle Kanununa göre toz numunelerin hacim ve yoğunlukları tayin edilir. Ölçümlerin doğruluğunun maksimum olması için taşan akışkan, küçük gözeneklere de girebilen tesirsiz bir gaz olmalıdır. Bu nedenle, ölçümler için atomik boyutları 0,25 nm çapındaki Helyum gazı kullanılmaktadır. Tek istasyonludur. Toz ve gözenekli malzemelerin yoğunluğunu ölçmektedir. Gerçek hacim ve gerçek yoğunluk hesaplamaktadır. Kimya, ilaç, gıda, inşaat, kozmetik ve malzeme bilimleri alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır.

Cihazın Kabiliyetleri

1cm3- 135cm3 hacimli malzemelerin yoğunluğunu ölçebilmektedir.
Cihazın tekrarlanabilirliği, tüm aralıktaki hacmin ±%0,02’si dahilindedir.
Cihazın hacim ölçümü, en fazla 0,0001 cc hassasiyetindedir.

Cihazın Kısıtları

%20-80 bağıl nem ve 15-35°C sıcaklık aralıklarında çalışmaktadır.

Yapılan Analizler

Yoğunluk ölçümü
Hacim ölçümü

Cihaz Personeli

Dr. Duygu Ceylan Erdoğan : duygu.erdogan@merklab.yildiz.edu.tr
İlkay Şenel : ilkay.senel@merklab.yildiz.edu.tr

Arşimet Yoğunluk Kiti

Marka, Model: Precisa XB 220A

Arşimet Yoğunluk Kiti’nin Genel Görünümü

Genel Bilgiler

Arşimet prensibine göre çalışarak numunenin yoğunluğunu belirleyen ve hassas terazi üzerinde kullanılan bir aksesuardır.

Cihazın Kabiliyetleri

0,1 mg analitik ve 0,01 mg semi mikro terazilerde kullanılabilir.
Sıvıların ve suda batabilen katı cisimlerin yoğunlukları ölçülebilmektedir.

Yapılan Analizler

Yoğunluk ölçümü

Cihaz Personeli

Dr. Duygu Ceylan Erdoğan : duygu.erdogan@merklab.yildiz.edu.tr
İlkay Şenel : ilkay.senel@merklab.yildiz.edu.tr