UV/VIS Spektrometresi
Marka, Model: Perkin Elmer Lambda 35 / PG Instruments T80+
Genel Bilgiler
Morötesi ve görünür ışık (UV-VIS) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesi prensibine dayanmaktadır. Işığın şiddetinin azalması soğurmanın arttığını göstermektedir. Numunenin derişimi belirli bir dalgaboyundaki soğurma davranışı ölüçülerek bulunmaktadır. UV-VIS spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılmaktadır. Birçok molekül UV veya VIS dalgaboylarını soğurur. Farklı moleküller farklı dalga boylarını soğurmaktadır. Bu nedenle, bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok soğurma bandından oluşmaktadır.
Cihazın Kabiliyetleri
• Dalgaboyu aralığı : 190-1100 nm
• Bant aralığı : 0,5, 1, 2, 5 nm değiştirilebilir
• Işık Kaynağı : Döteryum ve tungsten lambalar
• Optik : Çift ışınımlı
Cihazın Kısıtları
• Numune çözeltisi berrak olmalı ve kör ölçümler için yeterli miktarda çözücü getirilmelidir.
Yapılan Analizler
• Belirtilen dalga boyu aralığında spektrum taraması ve aynı zamanda kantitatif tayin gerçekleştirilebilmektedir.
Cihaz Personeli
Dr. Elif Seda Koçoğlu : eseda.kocoglu@merklab.yildiz.edu.tr
Raman Mikroskobu
Marka, Model: Edinburgh Instruments RM5
Genel Bilgiler
Raman spektroskopisi, numunenin monokromatik ışından oluşan güçlü bir lazer kaynağıyla ışınlanmasıyla saçılan ışının belirli bir açıdan ölçümüne dayanır. Bir molekülün spesifik titreşimlerinin spektrum özelliğini belirler ve maddeyi tanımlama olanağı sağlar.
Cihazın Kabiliyetleri
Lazer : Bilgisayar kontrollü 532 nm, 633 nm ve 785 nm
Spektral Çözünürlük : <0.3 cm-1
Spektral Aralık : <50 cm-1 – 15,000 cm-1
Spektrograf : Asimetrik Czerny-Turner, 225 mm fokal uzunluk
Konfokal Görüntüleme : Bilgisayar kontrollü ayarlanabilir konfokal iğne deliği
CCD Detektör : 2000 x 256 piksel, TE-soğutma -60°C (yüksek hassasiyetli)
Dahili Kalibrasyon : Dalga boyu kalibrasyon standardı (Neon), Raman kaydırma ve hassasiyet doğrulama standardı (Silisyum)
Otomatik lazer hizalama mikroskop objektifleri: 10x, 50x, 100x
Otomatize Tabla : XYZ motorize tabla (75 mm x 50 mm XY), konfokal Raman haritalama
Cihazın Kısıtları
• 100x büyütmenin üzerine çıkılamamaktadır.
Yapılan Analizler
• Raman spektrumu
• Alan analizi
• Derinlik profili
Cihaz Personeli
Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr
Dr. Ali Can Zaman : alican.zaman@merklab.yildiz.edu.tr
Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR)
Marka, Model: Perkin Elmer, Spectrum 100
Genel Bilgiler
Bu cihazla kimyasal bağ analizi ve sıvı ya da katı malzemelerdeki fonksiyonel grupların saptanması işlemleri gerçekleştirilmektedir. Kızılötesi (IR) spektroskopisi temel olarak kızılötesi ışığın numune tarafından soğrulmasına dayanır. Cihaz tarafından gönderilen kızılötesi ışınlar moleküldeki bağların titreşimi ve dönüşleri için gerekli miktarda dalga enerjisini soğurur. Kızılötesi ışık ancak değişken dipol momente sahip moleküller tarafından soğrulur. Örneğin N2, O2 gibi eş iki atomlular FTIR’da sonuç vermez. Cihazın ATR ve KBr üniteleri mevcuttur. Polimer, malzeme bilimleri, kimya ve seramik sektörlerinde yaygın olarak kullanılmaktadır.
Cihazın Kabiliyetleri
• 650 cm-1 ile 4000 cm-1 dalga numarası aralığında ölçüm yapan cihaz ile hızlı ve yüksek çözünürlükte spektrumlar elde edilebilmektedir.
• Katı toz ve sıvı numunelerin spektrumları alınabilir.
• TG cihazı ile bağlanarak termogravimetri analizi sırasında ortaya çıkan gazların spektrumları alınabilir.
Cihazın Kısıtları
• Dipol momente sahip olmayan moleküllerin spektrumlarının alınamaması
• Titreşim bantlarının çakışması sonucu daha az pik görülebilmesi
Yapılan Analizler
• ATR FT-IR
• KBr FT-IR
Cihaz Personeli
Dr. Tuğçe Unutkan Gösterişli : tugce.unutkan@merklab.yildiz.edu.tr
İlkay Şenel : ilkay.senel@merklab.yildiz.edu.tr
Hanife Sevgi Varlı Ma : hsevgi.varli@merklab.yildiz.edu.tr
Elipsometre
Marka, Model: T&T TT-90
Genel Bilgiler
Elipsometre, ışığın bir malzemeden geçmesi veya yansıması sırasında polarizasyonundaki değişimi ölçerek yüzey özellikleri hakkında bilgi verir. Tüm katı maddelerde (metaller, yarıiletkenler, yalıtkanlar) kullanılır. Cihaz, film kalınlığı ve bulk malzemelerin ve ince filmlerin optik sabitlerini belirler.
Cihazın Kabiliyetleri
• Tek ve çok katmanlı ince filmlerin kalınlığı ve optik sabitleri (n ve k)
• 250-2500 nm dalga boyu spektral aralığında
• 20-90 derece arası ayarlanabilir ışın ve dedektör açısı
• 0-30000 nm arası numune yüksekliği
• 75 W Xe lamba
Cihazın Kısıtları
• Sıvı numune analizi yapılamamaktadır.
• İnce film ya da bulk numune yüksekliği 3 mm’yi geçmemelidir.
Yapılan Analizler
• Film kalınlığı
• Optik sabit
Cihaz Personeli
Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr