UV/VIS Spektrometresi

Marka, Model: Perkin Elmer Lambda 35 / PG Instruments T80+

Genel Bilgiler

Morötesi ve görünür ışık (UV-VIS) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesi prensibine dayanmaktadır. Işığın şiddetinin azalması soğurmanın arttığını göstermektedir. Numunenin derişimi belirli bir dalgaboyundaki soğurma davranışı ölüçülerek bulunmaktadır. UV-VIS spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılmaktadır. Birçok molekül UV veya VIS dalgaboylarını soğurur. Farklı moleküller farklı dalga boylarını soğurmaktadır. Bu nedenle, bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok soğurma bandından oluşmaktadır.

Cihazın Kabiliyetleri

Dalgaboyu aralığı : 190-1100 nm
Bant aralığı : 0,5, 1, 2, 5 nm değiştirilebilir
Işık Kaynağı : Döteryum ve tungsten lambalar
Optik : Çift ışınımlı

Cihazın Kısıtları

Numune çözeltisi berrak olmalı ve kör ölçümler için yeterli miktarda çözücü getirilmelidir.

Yapılan Analizler

Belirtilen dalga boyu aralığında spektrum taraması ve aynı zamanda kantitatif tayin gerçekleştirilebilmektedir.

Cihaz Personeli

Dr. Elif Seda Koçoğlu : eseda.kocoglu@merklab.yildiz.edu.tr

Raman Mikroskobu

Marka, Model: Edinburgh Instruments RM5

Raman Cihazı
Derinlik Profili

Genel Bilgiler

Raman spektroskopisi, numunenin monokromatik ışından oluşan güçlü bir lazer kaynağıyla ışınlanmasıyla saçılan ışının belirli bir açıdan ölçümüne dayanır. Bir molekülün spesifik titreşimlerinin spektrum özelliğini belirler ve maddeyi tanımlama olanağı sağlar.

Cihazın Kabiliyetleri

Lazer : Bilgisayar kontrollü 532 nm, 633 nm ve 785 nm
Spektral Çözünürlük : <0.3 cm-1
Spektral Aralık : <50 cm-1 – 15,000 cm-1
Spektrograf : Asimetrik Czerny-Turner, 225 mm fokal uzunluk
Konfokal Görüntüleme : Bilgisayar kontrollü ayarlanabilir konfokal iğne deliği
CCD Detektör : 2000 x 256 piksel, TE-soğutma -60°C (yüksek hassasiyetli)
Dahili Kalibrasyon : Dalga boyu kalibrasyon standardı (Neon), Raman kaydırma ve hassasiyet doğrulama standardı (Silisyum)
Otomatik lazer hizalama mikroskop objektifleri: 10x, 50x, 100x
Otomatize Tabla : XYZ motorize tabla (75 mm x 50 mm XY), konfokal Raman haritalama

Cihazın Kısıtları

• 100x büyütmenin üzerine çıkılamamaktadır.

Yapılan Analizler

Raman spektrumu
Alan analizi
Derinlik profili

Cihaz Personeli

Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr
Dr. Ali Can Zaman : alican.zaman@merklab.yildiz.edu.tr

Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR)

Marka, Model: Perkin Elmer, Spectrum 100

Genel Bilgiler

Bu cihazla kimyasal bağ analizi ve sıvı ya da katı malzemelerdeki fonksiyonel grupların saptanması işlemleri gerçekleştirilmektedir. Kızılötesi (IR) spektroskopisi temel olarak kızılötesi ışığın numune tarafından soğrulmasına dayanır. Cihaz tarafından gönderilen kızılötesi ışınlar moleküldeki bağların titreşimi ve dönüşleri için gerekli miktarda dalga enerjisini soğurur. Kızılötesi ışık ancak değişken dipol momente sahip moleküller tarafından soğrulur. Örneğin N2, O2 gibi eş iki atomlular FTIR’da sonuç vermez. Cihazın ATR ve KBr üniteleri mevcuttur. Polimer, malzeme bilimleri, kimya ve seramik sektörlerinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

Cihazın Kabiliyetleri

650 cm-1 ile 4000 cm-1 dalga numarası aralığında ölçüm yapan cihaz ile hızlı ve yüksek çözünürlükte spektrumlar elde edilebilmektedir.
Katı toz ve sıvı numunelerin spektrumları alınabilir.
TG cihazı ile bağlanarak termogravimetri analizi sırasında ortaya çıkan gazların spektrumları alınabilir.

Cihazın Kısıtları

Dipol momente sahip olmayan moleküllerin spektrumlarının alınamaması
Titreşim bantlarının çakışması sonucu daha az pik görülebilmesi

Yapılan Analizler

ATR FT-IR
KBr FT-IR

Cihaz Personeli

Dr. Tuğçe Unutkan Gösterişli : tugce.unutkan@merklab.yildiz.edu.tr
İlkay Şenel : ilkay.senel@merklab.yildiz.edu.tr
Hanife Sevgi Varlı Ma : hsevgi.varli@merklab.yildiz.edu.tr

Elipsometre

Marka, Model: T&T TT-90

Elipsometre Cihazı Görseli

Genel Bilgiler

Elipsometre, ışığın bir malzemeden geçmesi veya yansıması sırasında polarizasyonundaki değişimi ölçerek yüzey özellikleri hakkında bilgi verir. Tüm katı maddelerde (metaller, yarıiletkenler, yalıtkanlar) kullanılır. Cihaz, film kalınlığı ve bulk malzemelerin ve ince filmlerin optik sabitlerini belirler.

Cihazın Kabiliyetleri

Tek ve çok katmanlı ince filmlerin kalınlığı ve optik sabitleri (n ve k)
250-2500 nm dalga boyu spektral aralığında
20-90 derece arası ayarlanabilir ışın ve dedektör açısı
0-30000 nm arası numune yüksekliği
75 W Xe lamba

Cihazın Kısıtları

Sıvı numune analizi yapılamamaktadır.
İnce film ya da bulk numune yüksekliği 3 mm’yi geçmemelidir.

Yapılan Analizler

Film kalınlığı
Optik sabit

Cihaz Personeli

Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr