Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
Marka: SHIMADZU Model: SPM-9600

Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) yüksek çözünürlüklü bir taramalı kuvvet mikroskobudur. Ulaşılmış çözünürlük birkaç nanometre ölçeğinde olup optik tekniklerden en az 1000 kat fazladır.
Yüzey yapısının topografi dışında farklı özelliklerini incelemek için AFM sistemi üzerinde Manyetik Güç Mikroskobu (MFM), Kelvin Kuvvet Mikroskobu (KFM), Yanal Kuvvet Mikroskobu (LFM), Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Kuvvet Modülasyonu Mikroskobu (FMM) tekniklerine dayalı görüntü ve analizlere olanak sağlamaktadır.

AFM Mikroskobu Kullanım Alanları
• Malzeme yüzeylerinin incelenmesi
• Tabaka/Film kalınlığı ölçülmesi
• Biyolojik numunelerin incelenmesi
• Sürtünme kuvveti tespiti
• Malzemelerde magnetik kuvvet ölçülmesi
• Malzemelerin iletkenliğinin ölçülmesi
• Malzemelerin elektriksel özelliklerin incelenmesi
• Nano boyuttaki aşınmaların gözlemlenmesi
• Gıda endüstrisi uygulamaları
• İş fonksiyonu hesaplamalarının yapılması
• Malzeme sertliği, elastikliği ve pürüzlülüğü hakkında bilgi edinilmesi

Elipsometre
T&T TT-90

Elipsometre, ışığın bir malzemeden geçmesi veya yansıması sırasında polarizasyonundaki değişim ölçülerek yüzey hakkında bilgi verir. Kullanılan ışığın dalga boyu aralığı genelde morötesi (142nm) bölgeden kırmızıaltı (52 km) bölgeye kadardır. Tüm katı maddelerde (metaller, yarıiletkenler, yalıtkanlar) kullanılır. Cihaz, film kalınlığı, bulk malzemelerin ve ince filmlerin optik sabitleri, yüzey ve ara yüzey pürüzlülüğü, katkılama oranı ve malzemeyi oluşturan bileşenleri belirler.

Merkezimizde yer alan cihaz özellikleri:

  • Spectral aralık 250-2300 nm
  • 20-90 derece arası ayarlanabilir lazer ve dedektör açısı
  • Sıvı hücresi
  • 0-30000 nm arası ölçüm

Fizik, malzeme mühendisliğinde ve diş hekimliğinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

Mekanik Profilometre
Veeco Dektak XT Bruker

İğne temas tekniğini kullanan yüzey profili ölçüm cihazıdır. Yüzeyin bir ters kaldıraç ile taranması ve diğer ucunda bir iz bırakıcı ile yüzeydeki girinti ve çıkıntıların tespit edilmesi yani yüzey profilinin elde edilmesidir. Yüzeyde bir alanda ileri geri hareket ederek ölçüm yapılmaktadır. Yüzeyin topografik haritası üç boyutlu olarak elde edilir. Böylece pürüz derinlikleri ölçülebilir ve aşınmanın hangi safhada olduğu hakkında veri elde edilmiş olur. Yüzey pürüzlülük, topografya ve basamak yüksekliği gibi ölçümleri yüksek hassasiyette, tekrarlanabilir ve güvenilir olarak gerçekleştirmektedir.
Bu cihazla aşağıdaki testler yapılmaktadır:

  • Yüzey pürüzlülük tarama
  • Film kalınlığı ölçme
  • Yüzey yapısı belirleme

Seramik, otomotiv sanayi, fizik, malzeme bilimleri, diş hekimlikleri ve solar cell üretici firmaları tarafından yaygın olarak kullanılmaktadır.

Optik Profilometre
AEP Nanomap 1000WLI

Örnek üzerinde istenilen bölge, hem optik hem de stylus profiler ile herhangi bir kayma olmaksızın bilgisayar kontrollü olarak görüntülenir.Yüzeye ışınların gönderilmesi veya yüzeyde gezdirilen başka bir elemanın üzerine tutularak yansıyan ışınlardaki değişim ile yüzey pürüzlülüğünü ölçerek yüzey profili elde edilir. Malzeme yüzeyinin 2 ve 3 boyutlu haritası çıkarılır.
Yüzeyle temas olmadığından numune üzerinde aşınma meydana gelmez.
Bu cihazla aşağıdaki testler yapılmaktadır:

  • Yüzey pürüzlülük tarama
  • Topografik tarama
  • Haritalama
  • Film kalınlığı ölçme
  • Optik sabit belirleme

Fizik, malzeme ve diş hekimliğinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

Malzeme Mikroskobu
Zeiss Axio Zoom V.16

Malzeme Mikroskobu ile numunelerinizi, önişlem gerekmeden inceliyoruz. Bu cihazımızla özellikle de Malzeme Mühendisliği, Elektronik Haberleşme Teknolojileri Materyal Yapı Analizi alanlarındaki işlemlerinizi rahatlıkla gerçekleştirebilmekteyiz.

Çözünürlük kaybı olmaksızın, 270 kata kadar malzemenizi büyütebiliyor, elde ettiğimiz resimleri de çeşitli görsel araçlarla zarif hale getirebiliyoruz.

Genişletilmiş Odak Teknolojisi ve Mosaix özelliğiyle de, kısmi bulanık bölgelerdeki “alan derinliği” sorununu çözerek, numunenizin kusursuz görüntülerini elde edebiliyoruz.

BET Yüzey Alanı
Quantachrome Quadrosorb SI

Cihaz, kullanıcılarının ar-ge ihtiyaçlarını karşılayabilmek için yüzey alanı ve gözenek boyutu ölçümlerinde kullanılan 4 bağımsız analiz istasyonuna sahip cihazdır. Adsorpsiyon ve desorpsiyon kapasiteleri sayesinde BET yüzey alanı ve por boyut dağılımına güvenilir ve doğru bir şekilde ulaşılabilir.Bu cihazda aşağıda verilen analiz türleri yapılmaktadır:

  • Mikrogözenek boyut dağılımı/hacmi
  • Tek / Çok noktalı BET yüzey alanı
  • Toplam gözenek hacmi
  • Adsorption/Desorption Isothermleri

Eczacılık, kimya, malzeme bilimi, inşaat ve diş hekimliği alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır.

Fiziksel ve Kimyasal Adsorpsiyon
Micromeritics ASAP 2020

Fiziksel adsorpsiyon : Tek noktalı-çok noktalı BET, Langmuir yüzey alanı, Temkin ve Freundlich isotherm, analizi, BJH (Barrett, Joyner, ve Halenda) yöntemi ile bir çok farklı kalınlık eşitliği kullanılma seçeneği ile mezo ve makro gözenek hacim ve alanı dağılımı, MP yöntemi ile mikrogözenek dağılımı ve t-plot ve αs yöntemi ile toplam mikrogözenek hacmi, Adsorpsiyon ısısı belirleme, DFT ile gözenek hacminin gözenek boyutuna bağlı olarak değişiminin saptanması ile mikrogözeneklilik ve mezogözeneklilik hakkında bilgi edinme, Mikrogözenek hacmi ve alanı dağılımını saptamada kullanılabilen diğer yöntemler: Dubinin-Radushkevich (D-R), Dubinin-Astakhov (D-A), Horvath-Kawazoe (H-K)

Kimyasal adsorpsiyon: Aktif metal alanı, Kimyasal adsorpsiyon ısısı, Ortalama kristal boyutu, Dönüşümsüz ve dönüşümlü kimyasal adsorpsiyon, Aktif metal dağılımı, Tek tabaka adsorpsiyon kapasitesi

  • N2, CO2, Ar, H2S, H2O, NH3, CO, H2 gaz seçenekleriyle,
  • 3.5 – 5000 A Gözenek ölçüm aralığı
  • 0 – 950 mmHg basınç
  • 1 x 10-7 torr’a kadar (0.10 mmHg basınç çevirici) çözünürlük
  • 0.15% ten yüksek çözünürlük
  • 25 °C – 450 °C, 1 °C’lik adımlarla degaz sistemi
Helyum Piknometresi
Quantachrome Ultrapyc 1200e

Helyum piknometresi ile toz numunelerin Arşimet’in akışkan taşması prensibi ve Boyle Kanunu kullanılarak hacim ve yoğunlukları tayin edilir.

Kimya, ilaç, gıda, inşaat, kozmetik ve malzeme bilimleri alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır.

Porozimetre
Quantachrome PM 60/13

Gözenek boyut ölçüm cihazıdır. Cıvalı porozimetreler; yeterli basınç uygulandığı takdirde ıslatımsız ve tepkimeye girmeyen bir sıvının küçük gözeneklere girmesi prensibine göre çalışmaktadır. Poremaster 60, 60,000 psia basınçta 950 mikrondan 0,0036 mikron gözenek çapına kadar 2 düşük basınç istasyonu ve bir yüksek basınç istasyonu ile işlem yapar.