Polikristal XRD
PANalytical X’Pert PRO

Tozdan ince film ve nanomalzemelere kadar tüm katı malzemelerinizin kimyasal bileşimi ve kristal yapısı TAHRİBATSIZ bir şekilde analiz edilir.

Cihaz Özellikleri

  • Tüp: Cu (45 Kv – 40 mA)
  • Dalga boyu :CuKα1 =1.54059 Angstrom
  • Tarama hızı : (İsteğe bağlı) derece/dakika
  • 0-30000nm arası ölçüm

Yardımcı ekipmanlar

  • T25-1600 °C aralığında hava, 10-4 mbar vakum veya inert gaz ortamında çalışan sıcaklık ünitesi
  • İnce film dedektörü/li>
  • ICDD PDF2 veritabanı

Uygulamalar: Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında, Metal ve alaşım analizlerinde, Seramik ve çimento sanayiinde, İnce film kompozisyonu tayininde, Polimerlerin analizinde, İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde, Arkeolojide, tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde, Sentezlenen malzemelerin yapısının aydınlatılmasında, Malzeme Biliminde. 

Toz numunenin partikül boyutunun 50 mikron altında ve homojen öğütülmüş olması gerekmektedir. Yeterli miktarda varsa 5-10 gr kadar eğer yoksa az numune tutucu kabı için en az 250 mg kadar gönderilmelidir.
Bulk numune en fazla 2-3 mm kalınlığında ve 5 cm genişliğinde olmalıdır.