Elipsometre
T&T TT-90

Elipsometre, ışığın bir malzemeden geçmesi veya yansıması sırasında polarizasyonundaki değişim ölçülerek yüzey hakkında bilgi verir. Kullanılan ışığın dalga boyu aralığı genelde morötesi (142nm) bölgeden kırmızıaltı (52 km) bölgeye kadardır. Tüm katı maddelerde (metaller, yarıiletkenler, yalıtkanlar) kullanılır. Cihaz, film kalınlığı, bulk malzemelerin ve ince filmlerin optik sabitleri, yüzey ve ara yüzey pürüzlülüğü, katkılama oranı ve malzemeyi oluşturan bileşenleri belirler.

Merkezimizde yer alan cihaz özellikleri:

  • Spectral aralık 250-2300 nm
  • 20-90 derece arası ayarlanabilir lazer ve dedektör açısı
  • Sıvı hücresi
  • 0-30000 nm arası ölçüm

Fizik, malzeme mühendisliğinde ve diş hekimliğinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

 

Mekanik Profilometre
Veeco Dektak XT Bruker

İğne temas tekniğini kullanan yüzey profili ölçüm cihazıdır. Yüzeyin bir ters kaldıraç ile taranması ve diğer ucunda bir iz bırakıcı ile yüzeydeki girinti ve çıkıntıların tespit edilmesi yani yüzey profilinin elde edilmesidir. Yüzeyde bir alanda ileri geri hareket ederek ölçüm yapılmaktadır. Yüzeyin topografik haritası üç boyutlu olarak elde edilir. Böylece pürüz derinlikleri ölçülebilir ve aşınmanın hangi safhada olduğu hakkında veri elde edilmiş olur. Yüzey pürüzlülük, topografya ve basamak yüksekliği gibi ölçümleri yüksek hassasiyette, tekrarlanabilir ve güvenilir olarak gerçekleştirmektedir.
Bu cihazla aşağıdaki testler yapılmaktadır:

  • Yüzey pürüzlülük tarama
  • Film kalınlığı ölçme
  • Yüzey yapısı belirleme

Seramik, otomotiv sanayi, fizik, malzeme bilimleri, diş hekimlikleri ve solar cell üretici firmaları tarafından yaygın olarak kullanılmaktadır.

 

Optik Profilometre
AEP Nanomap 1000WLI

Örnek üzerinde istenilen bölge, hem optik hem de stylus profiler ile herhangi bir kayma olmaksızın bilgisayar kontrollü olarak görüntülenir.Yüzeye ışınların gönderilmesi veya yüzeyde gezdirilen başka bir elemanın üzerine tutularak yansıyan ışınlardaki değişim ile yüzey pürüzlülüğünü ölçerek yüzey profili elde edilir. Malzeme yüzeyinin 2 ve 3 boyutlu haritası çıkarılır.
Yüzeyle temas olmadığından numune üzerinde aşınma meydana gelmez.
Bu cihazla aşağıdaki testler yapılmaktadır:

  • Yüzey pürüzlülük tarama
  • Topografik tarama
  • Haritalama
  • Film kalınlığı ölçme
  • Optik sabit belirleme

Fizik, malzeme ve diş hekimliğinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

 

Malzeme Mikroskobu
Zeiss Axio Zoom V.16

Malzeme Mikroskobu ile numunelerinizi, önişlem gerekmeden inceliyoruz. Bu cihazımızla özellikle de Malzeme Mühendisliği, Elektronik Haberleşme Teknolojileri Materyal Yapı Analizi alanlarındaki işlemlerinizi rahatlıkla gerçekleştirebilmekteyiz.

Çözünürlük kaybı olmaksızın, 270 kata kadar malzemenizi büyütebiliyor, elde ettiğimiz resimleri de çeşitli görsel araçlarla zarif hale getirebiliyoruz.

Genişletilmiş Odak Teknolojisi ve Mosaix özelliğiyle de, kısmi bulanık bölgelerdeki “alan derinliği” sorununu çözerek, numunenizin kusursuz görüntülerini elde edebiliyoruz.