Polikristal XRD
T&T TT-90

Tozdan ince film ve nanomalzemelere kadar tüm katı malzemelerinizin kimyasal bileşimi ve kristal yapısı TAHRİBATSIZ bir şekilde analiz edilir.

Cihaz Özellikleri

  • Tüp: Cu (45 Kv – 40 mA)
  • Dalga boyu :CuK?1 =1.54059 Angstrom
  • Tarama hızı : (İsteğe bağlı) derece/dakika
  • 0-30000nm arası ölçüm

Yardımcı ekipmanlar

  • T25-1600 °C aralığında hava, 10-4 mbar vakum veya inert gaz ortamında çalışan sıcaklık ünitesi
  • İnce film dedektörü/li>
  • ICDD PDF2 veritabanı

Uygulamalar: Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında, Metal ve alaşım analizlerinde, Seramik ve çimento sanayiinde, İnce film kompozisyonu tayininde, Polimerlerin analizinde, İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde, Arkeolojide, tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde, Sentezlenen malzemelerin yapısının aydınlatılmasında, Malzeme Biliminde.

 



Tek Kristal XRD
Rigaku – XtaLAB mini

Tek kristal X-ışını kırınımı tekniği sayesinde yapı çözümü ve yapısal bilgi sağlama (Birim hücrenin, bağ-uzunlukları, bağ-açıları) amacıyla 3-D kimyasal yapının belirlenmesinde kullanılır.
Başlıca, ilaç sanayi, fizik, kimya, malzeme sektörlerinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

 



Enerji Dağılımlı X-Işını Floresans (XRF) Spektrometresi
PANalytical – Minipal4

Sodyum-Uranyum aralığındaki elementleri içeren toz, katı ve sıvı numunelerin tahribatsız olarak kantitatif ve kalitatif analizi yapılır.

Cihaz Özellikleri

  • Silikon drift detektör
  • 32 mm çaplı 12 adet çıkarılabilir numune tutucu
  • Helyum gaz ortamında çalışma